Question

【題目】長(zhǎng)沙某公司生產(chǎn)一種高科技晶片100片，生產(chǎn)過(guò)程中由于受到一些不可抗因素的影響，晶片會(huì)受到一定程度的磨損，因此在生產(chǎn)結(jié)束之后需要由測(cè)試人員進(jìn)行相應(yīng)的指標(biāo)測(cè)試.指標(biāo)測(cè)試情況統(tǒng)計(jì)如表所示：

若，則稱該晶片為合格品，否則該晶片為劣質(zhì)品.

（1）試求本次生產(chǎn)過(guò)程中該公司生產(chǎn)出合格品的頻率以及數(shù)量；

（2）求這批晶片測(cè)試指標(biāo)的平均值；

（3）現(xiàn)按照分層抽樣的方法在測(cè)試指標(biāo)在與之間的晶片中抽取6個(gè)晶片，再?gòu)倪@6個(gè)晶片中任取2個(gè)晶片進(jìn)入深入分析，求恰有1個(gè)晶片的測(cè)試指標(biāo)在之間的概率.

Answer 1

【答案】（1）80；（2）74；（3）

【解析】

(1)先利用對(duì)立事件的概率求該公司生產(chǎn)出合格品的頻率，再求數(shù)量.(2)利用平均數(shù)公式求這批晶片測(cè)試指標(biāo)的平均值.(3)利用古典概型求恰有1個(gè)晶片的測(cè)試指標(biāo)在之間的概率.

（1）依題意，該公司生產(chǎn)出合格品的概率，

數(shù)量為（片）.

（2）依題意，所求平均值為.

（3）依題意，可知抽取的6個(gè)晶片中有5個(gè)晶片的測(cè)試指標(biāo)在之間，

記為，1個(gè)晶片的測(cè)試指標(biāo)在之間，記為，

則任取2個(gè)晶片，所有的情況為，共15種，其中滿足條件的有5種，

故所求概率.